偏光熔点测定仪XPR-80

一、用途

XPR-80系列偏光熔点测定仪是利用光的偏振特性对具有双折射性物质进行研究鉴定的必备仪器。它在医学上有广泛的用途,如观察齿、骨、头发、及活细胞等的结晶内含物、神经纤维、动物肌肉、植物纤维等的结构细节,分析变性过程。也可以观察无机化学中各种盐类的结晶状况在自然光看不到的精细结构。

二、技术参数

类别

技术参数

放大倍数

40×-1000×

观察头

三目头,30°倾斜

目镜

大视野WF10×,视场直径Φ18mm

物镜

放大倍数

平场消色差物镜4×

平场消色差物镜10×

平场消色差物镜40×

平场消色差物镜100×(油)

转换器

内向式滚珠内定位四孔转换器

载物台

旋转式载物台(直径:Φ120mm)

调焦机构

粗微动同轴调焦, 微动格值:2μm

聚光镜

NA.1.25 阿贝聚光镜,可上下升降

滤色片

蓝滤色片、磨砂玻璃

光源

6V 20W 卤素灯,亮度可调

三、电脑型系统组成:

1.简易偏光显微镜    2.适配镜    3.300W像素摄像器     4.图像处理驱动软件

5.数据线            6.300°热台   7计算机(自配)

四、加热台主要参数(具体参考热台资料)

工作温度

室温至300℃

起始温度设定速率

50℃300℃不大于12min300℃50℃不大于15min

仪器温度最小读数

0.1℃

加热台温度控制准确度

室温-200℃:±0.5℃200-320℃1℃

起始温度设定准确度

±1℃

线性升降温速率(℃/min

0.20.511.52345(共八档)

线性升温速率偏差

±10%

降温速率控制

自带微小风扇;通过设置预置温度来减小降温速率

样品移动

样品可以手动通过载玻片小范围移动,便于观察

加热体方式

上面板与下面板同时加热(样本放在两面板中间)

温度记录方式

可记录初熔,终熔温度

温度超过100℃时,40X的物镜工作距离太近,容易损坏镜头,请用长工作距离的物镜。

偏光熔点测定仪XPR-88

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透反偏光显微镜XPT-320
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